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Autore: |
Gilfrich, John V.
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Titolo: |
Advances in X-Ray Analysis : Proceedings of the 42 Annual Conference of Applications of X-Ray Analysis, held August 2-6, 1993, in Denver, Colorado / edited by John V. Gilfrich ... [et al.]
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Pubblicazione: | New York : Plenum Press, 1994 |
Descrizione fisica: | xxi, 756 p. ; 25 cm |
Disciplina: | 548 |
Soggetto non controllato: | Cristallografia |
Raggi x | |
Titolo autorizzato: | Advances in X-Ray Analysis ![]() |
ISBN: | 0-306-44901-3 |
Formato: | Materiale a stampa ![]() |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione: | Inglese |
Record Nr.: | 990001119040403321 |
Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
Collocazione: | 37-025.037 |
Opac: | Controlla la disponibilità qui |