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Workload characterization of computer systems and computer networks : collection of invited lectures presebted at the International workshop on workload characterization of computer systems and computer networks Pavia, Italy 23-25 october, 1985 / edited by Giuseppe Serazzi
Workload characterization of computer systems and computer networks : collection of invited lectures presebted at the International workshop on workload characterization of computer systems and computer networks Pavia, Italy 23-25 october, 1985 / edited by Giuseppe Serazzi
Autore International workshop on workload characterization of computer systems and computer networks : <1985
Pubbl/distr/stampa Amsterdam : North-Holland, 1986
Descrizione fisica 178 p. : ill. ; 24 cm
Disciplina 004.19
Soggetto non controllato Elaboratori digitali elettroniciCongressi
Reti di computerCongressi
ISBN 0-444-70051-X
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNINA-990000455320403321
International workshop on workload characterization of computer systems and computer networks : <1985  
Amsterdam : North-Holland, 1986
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
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World Problems. Decision Problems and the Burnside Problem in Group Theory Edited by W.W. Boone ; F.B. Cannonito ; R.C. Lyndon
World Problems. Decision Problems and the Burnside Problem in Group Theory Edited by W.W. Boone ; F.B. Cannonito ; R.C. Lyndon
Pubbl/distr/stampa Amsterdam [etc.] : North-Holland, 1973
Collana Studies in logic and the foundations of mathematics
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNINA-990001164270403321
Amsterdam [etc.] : North-Holland, 1973
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
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X-Ray Determination of Electron Distributions / by Richard J. Weiss
X-Ray Determination of Electron Distributions / by Richard J. Weiss
Autore Weiss, Richard Jerome <1923- >
Pubbl/distr/stampa Amsterdam : North-Holland, 1966
Disciplina 530.41
Collana Selected Topics in Solid State Physics
Soggetto non controllato Stato solido
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNINA-990001076130403321
Weiss, Richard Jerome <1923- >  
Amsterdam : North-Holland, 1966
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
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X-ray microanalysis in the electron microscope / John A. Chandler
X-ray microanalysis in the electron microscope / John A. Chandler
Autore Chandler, John A.
Pubbl/distr/stampa Amsterdam ; New York : North-Holland, 1977
Descrizione fisica 317-547 p. : ill. ; 23 cm
Disciplina 502.825
Collana Practical methods in electron microscopy , V/II
Soggetto topico X-ray microanalysis
Electron microscopy - Technique
Electron microscopy - Handbooks, manuals, etc
ISBN 0720406072
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNISALENTO-991004025189707536
Chandler, John A.  
Amsterdam ; New York : North-Holland, 1977
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. del Salento
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XL CONGRES Internationale de philosophie. Bruxelles, 20-26 Aout 1953 : actes.
XL CONGRES Internationale de philosophie. Bruxelles, 20-26 Aout 1953 : actes.
Pubbl/distr/stampa Amsterdam : North-Holland, 1953
Descrizione fisica 229 p. ; 24 cm
Disciplina 100
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione und
Record Nr. UNINA-990006287010403321
Amsterdam : North-Holland, 1953
Materiale a stampa
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