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X-ray microanalysis in the electron microscope / John A. Chandler



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Autore: Chandler, John A. Visualizza persona
Titolo: X-ray microanalysis in the electron microscope / John A. Chandler Visualizza cluster
Pubblicazione: Amsterdam ; New York : North-Holland, 1977
Descrizione fisica: 317-547 p. : ill. ; 23 cm
Disciplina: 502.825
Soggetto topico: X-ray microanalysis
Electron microscopy - Technique
Electron microscopy - Handbooks, manuals, etc
Nota di bibliografia: Includes bibliographies and index.
ISBN: 0720406072
Formato: Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione: Inglese
Record Nr.: 991004025189707536
Lo trovi qui: Univ. del Salento
Opac: Controlla la disponibilità qui
Serie: Practical methods in electron microscopy , V/II