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Large scale applications and radiation hardness of semiconductor detectors : 3. International Conference, Firenze, October 1-3, 1997 / edited by E. Focardi and G. Parrini
Large scale applications and radiation hardness of semiconductor detectors : 3. International Conference, Firenze, October 1-3, 1997 / edited by E. Focardi and G. Parrini
Autore International Conference on Large scale applications and radiation hardness of semiconductor detectors : 3. : <1997
Pubbl/distr/stampa Bologna : Società italiana di fisica, 1999
Descrizione fisica IV, 181 p. : ill. ; 25 cm
Soggetto non controllato Semiconduttori
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNINA-990010094750403321
International Conference on Large scale applications and radiation hardness of semiconductor detectors : 3. : <1997
Bologna : Società italiana di fisica, 1999
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui
Large scale applications and radiation hardness of semiconductor detectors : 1. International Conference, Istituto SS. Annunziata - Firenze, 7-9 July 1993 / edited by A. Baldini and E. Focardi
Large scale applications and radiation hardness of semiconductor detectors : 1. International Conference, Istituto SS. Annunziata - Firenze, 7-9 July 1993 / edited by A. Baldini and E. Focardi
Autore International Conference on Large scale applications and radiation hardness of semiconductor detectors : 1. : <1993
Pubbl/distr/stampa Bologna : Società italiana di fisica, 1994
Descrizione fisica XIII, 195 p. : ill. ; 25 cm
Disciplina 537.622
Collana Conference Proceedings
Soggetto non controllato Semiconduttori
ISBN 88-7794-063-8
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNINA-990001121240403321
International Conference on Large scale applications and radiation hardness of semiconductor detectors : 1. : <1993
Bologna : Società italiana di fisica, 1994
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui