Microwave devices : device circuit interactions / M. J. Howes, D. V. Morgan |
Autore | Howes, Michael John |
Pubbl/distr/stampa | Chichester ; New York : Wiley & Sons, 1976 |
Descrizione fisica | 402 p. : ill. ; 23 cm |
Disciplina | 621.381'3 |
Altri autori (Persone) | Morgan, D. V. |
Collana | The Wiley series in solid state devices and circuits |
Soggetto non controllato | Dispositivi a microonde |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Record Nr. | UNINA-990000506670403321 |
Howes, Michael John | ||
Chichester ; New York : Wiley & Sons, 1976 | ||
Materiale a stampa | ||
Lo trovi qui: Univ. Federico II | ||
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Reliability and degradation : semiconductor devices and circuits / M. J. Howes , D. V. Morgan |
Autore | Howes, Michael John |
Pubbl/distr/stampa | New York : Wiley & sons, ©1981 |
Descrizione fisica | 444 p. : ill. ; 23 cm |
Disciplina | 621.381'52 |
Altri autori (Persone) | Morgan, D. V. |
Collana | The Wiley series in solid state devices and circuits |
Soggetto non controllato | Semiconduttori |
ISBN | 0-471-28028-3 |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Record Nr. | UNINA-990000489670403321 |
Howes, Michael John | ||
New York : Wiley & sons, ©1981 | ||
Materiale a stampa | ||
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