Atti del 2. Congresso italiano di microscopia elettronica : Milano, Palazzo Visconti |
Autore | Congresso italiano di microscopia elettronica : <2. ; : 1959 |
Pubbl/distr/stampa | Milano : s.n, 1959 |
Descrizione fisica | 166 p. : ill. ; 21 cm |
Disciplina | 502.825 |
Soggetto topico | Microscopia elettronica -- Atti di congressi -- Milano -- 1959 |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | ita |
Record Nr. | UNISA-990003500700203316 |
Congresso italiano di microscopia elettronica : <2. ; : 1959 | ||
Milano : s.n, 1959 | ||
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Cryo-EM, Part A : sample preparation and data collection / edited by Grant J. Jensen |
Pubbl/distr/stampa | Amsterdam [etc.] : Elsevier, 2010 |
Descrizione fisica | XLV, 410 p., [8] c. d tav. ; 23 cm |
Disciplina | 502.825 |
Collana | Methods in enzymology |
Soggetto topico | Microscopia elettronica |
ISBN | 978-0-12-374906-2 |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Record Nr. | UNISA-990003517460203316 |
Amsterdam [etc.] : Elsevier, 2010 | ||
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Cryo-EM, Part B : 3-D Reconstruction / edited by Grant J. Jensen |
Pubbl/distr/stampa | Amsterdam [etc.] : Elsevier, 2010 |
Descrizione fisica | XLV, 410 p., [8] c. d tav. ; 23 cm |
Disciplina | 502.825 |
Collana | Methods in enzymology |
Soggetto topico | Microscopia elettronica |
ISBN | 978-0-12-384991-5 |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Record Nr. | UNISA-990003516320203316 |
Amsterdam [etc.] : Elsevier, 2010 | ||
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Cryo-EM, Part C : analyses, Interpretation, and Case Studies / edited by Grant J. Jensen |
Pubbl/distr/stampa | Amsterdam [etc.] : Elsevier, 2010 |
Descrizione fisica | XLV, 360 p. ; 23 cm |
Disciplina | 502.825 |
Collana | Methods in enzymology |
Soggetto topico | Microscopia elettronica |
ISBN | 978-0-12-384993-9 |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Record Nr. | UNISA-990003516210203316 |
Amsterdam [etc.] : Elsevier, 2010 | ||
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Design of the electron microscope laboratory |
Autore | Alderson, Ronald H. |
Pubbl/distr/stampa | Amsterdam : North-Holland |
Descrizione fisica | xiv, 130 p. : ill. ; 23 cm |
Disciplina | 502.825 |
Collana | Practical methods in electron microscopy 4 |
Soggetto topico |
Electron microscopes
Laboratories - Design and construction Facility Design and Construction Laboratories Microscopy, Electron |
ISBN | 0720442605 |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Record Nr. | UNISALENTO-991004024879707536 |
Alderson, Ronald H. | ||
Amsterdam : North-Holland | ||
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Electron microscopy : methos and protocols / edited by John Kuo |
Edizione | [2. ed.] |
Pubbl/distr/stampa | Totowa : Humana Press, copyr. 2007 |
Descrizione fisica | XV, 608 p. : ill. ; 24 cm |
Disciplina | 502.825 |
Collana | Methods in molecular biology |
Soggetto topico | Microscopia elettronica |
ISBN | 1-58829-573-7 |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Record Nr. | UNISA-990002955570203316 |
Totowa : Humana Press, copyr. 2007 | ||
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Electron microscopy 1980 : proceedings of the 7th European Congress on Electron Microscopy, The Hague, The Netherlands, August 24-29, 1980 / edited by P. Brederoo...[et al.] |
Autore | European Congress on electron microscopy <7. ; 1980 ; Hague, Netherlands> |
Pubbl/distr/stampa | Leiden : Seventh European Congress on Electron Microscopy Foundation, 1980 |
Descrizione fisica | 4 v. : ill. ; 27 cm |
Disciplina | 502.825 |
Altri autori (Persone) | Brederoo, P. |
Collana | International Conference on high voltage electron microscopy ; 6 |
Soggetto topico | Electron microscopy - Congresses |
Classificazione |
53(082.2)
53.0.691 LC QH212.E4 |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Record Nr. | UNISALENTO-991000910339707536 |
European Congress on electron microscopy <7. ; 1980 ; Hague, Netherlands> | ||
Leiden : Seventh European Congress on Electron Microscopy Foundation, 1980 | ||
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Electron microscopy and analysis / Peter J. Goodhew, John Humphreys, Richard Beanland |
Autore | Goodhew, Peter J. |
Edizione | [3rd ed.] |
Pubbl/distr/stampa | London ; New York : Taylor & Francis, 2001 |
Descrizione fisica | x, 251 p. : ill. ; 24 cm |
Disciplina | 502.825 |
Altri autori (Persone) |
Humphreys, F. J.
Beanland, R. |
Soggetto topico | Electron microscopy |
ISBN | 0748409688 |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Record Nr. | UNISALENTO-991001754869707536 |
Goodhew, Peter J. | ||
London ; New York : Taylor & Francis, 2001 | ||
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Introduction to scanning tunneling microscopy / C. Julien Chen |
Autore | Chen, C. Julien |
Pubbl/distr/stampa | New York ; Oxford : Oxford University Press, 1993 |
Descrizione fisica | ix, 412 p. ; 24 cm |
Disciplina | 502.825 |
Collana | Oxford series in optical and imaging sciences ; 4 |
Soggetto topico | Scanning tunneling microscopy |
ISBN | 0195071506 |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Record Nr. | UNISALENTO-991000172929707536 |
Chen, C. Julien | ||
New York ; Oxford : Oxford University Press, 1993 | ||
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Procedures in electron microscopy / principal editors A. W. Robards, A. J. Wilson |
Pubbl/distr/stampa | Chichester : Wiley, 1993-1998 |
Descrizione fisica | 2 v. (loose-leaf) : ill. ; 30 cm |
Disciplina | 502.825 |
Altri autori (Persone) |
Robards, Anthony William author
Wilson, Ashley J. |
Soggetto topico | Electron microscopy - Technique |
ISBN | 0471928534 |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Record Nr. | UNISALENTO-991001506159707536 |
Chichester : Wiley, 1993-1998 | ||
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