Reliability and degradation : semiconductor devices and circuits / M. J. Howes , D. V. Morgan
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| Autore: |
Howes, Michael John
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| Titolo: |
Reliability and degradation : semiconductor devices and circuits / M. J. Howes , D. V. Morgan
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| Pubblicazione: | New York : Wiley & sons, ©1981 |
| Descrizione fisica: | 444 p. : ill. ; 23 cm |
| Disciplina: | 621.381'52 |
| Soggetto non controllato: | Semiconduttori |
| Altri autori: |
Morgan, D. V.
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| Titolo autorizzato: | Reliability and degradation |
| ISBN: | 0-471-28028-3 |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 990000489670403321 |
| Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
| Collocazione: | 10 E I 309 |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |