Vai al contenuto principale della pagina

Large scale applications and radiation hardness of semiconductor detectors : 3. International Conference, Firenze, October 1-3, 1997 / edited by E. Focardi and G. Parrini



(Visualizza in formato marc)    (Visualizza in BIBFRAME)

Autore: International Conference on Large scale applications and radiation hardness of semiconductor detectors : 3. : <1997
Titolo: Large scale applications and radiation hardness of semiconductor detectors : 3. International Conference, Firenze, October 1-3, 1997 / edited by E. Focardi and G. Parrini
Pubblicazione: Bologna : Società italiana di fisica, 1999
Descrizione fisica: IV, 181 p. : ill. ; 25 cm
Soggetto non controllato: Semiconduttori
Persona (resp. second.): Focardi, Ettore
Parrini, Giuliano
Formato: Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione: Inglese
Record Nr.: 990010094750403321
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Collocazione: 30-100.001
Opac: Controlla la disponibilità qui